FIB-SEM's

La configuración en los sistemas FIB-SEM es tal que los puntos focales del haz de electrones y haces de iones coinciden, lo que da como resultado la optimización de muchas aplicaciones. Esta característica permite obtener imágenes SEM simultáneas durante las tareas de fresado de FIB, un salto significativo en términos de rendimiento en todas aquellas operaciones de FIB que exigen niveles máximos de precisión.

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