MIRA LM

Nuevo producto

Mira LM

Un FE-SEM de solución compacta totalmente controlado por computadora, puede ser  configurado para operar   tanto en alto como en bajo vacio, excepcionales propiedades ópticas en la captura de imágenes digitales libres de parpadeo y con estupenda calidad.

Resolución:

1nm.

Software:

Sofisticado software para el control del microscopio y la captura de imágenes utilizando la plataforma de Microsoft™ Windows. Formatos estándar para almacenar procesar y medir fácilmente las imágenes capturadas. Ajuste automático del microscopio y de muchas otras operaciones son características del desempeño de este equipo.

Accesorios:

La familia MIRA se puede configurar con los siguientes tipos de accesorios:
Detector de electrones secundarios (SE).
Detector de electrones retrodispersos (BSE).
Medidor de la corriente de sonda.
Alarma de Toque.
Cámara de TV-IR.
Detectores de catodoluminiscencia.

Aplicaciones:

Equipo adecuado para el estudio de:

Litografía
Morfología
Nanocomposición polímeros y metales
Propiedades de Elementos químicos como el carbón
Ciencia biológica

30 otros productos de la misma categoría: