TESCAN MIRA Ver más grande

TESCAN MIRA

SEM con fuente de emisión de electrones FEG Schottky combina imágenes SEM y análisis de composición elemental en vivo en una sola ventana del software Essence™ de TESCAN.

Aplicaciones:

  • Ciencia de los Materiales (aceros y aleaciones metálicas, pilas, cerámicas y revestimiento duro, cristal, material para la construcción e ingeniería civil, polímeros y compuestos, madera, textiles y papel)

El microscopio electrónico de barrido (SEM) de cuarta generación de TESCAN MIRA con fuente de emisión de electrones FEG Schottky combina imágenes SEM y análisis de composición elemental en vivo en una sola ventana del software Essence ™ de TESCAN. Esta combinación simplifica significativamente la adquisición de datos morfológicos y elementales de la muestra, lo que convierte a MIRA SEM en una solución analítica eficiente para la inspección de materiales de rutina en laboratorios de control de calidad, análisis de fallas y de investigación.

  • Plataforma analítica con TESCAN Essence ™ EDS totalmente integrado, que combina de manera eficiente imágenes SEM con análisis de composición elemental en una sola ventana del software Essence ™.

  • Imágenes óptimas y condiciones analíticas inmediatamente disponibles gracias al exclusivo diseño óptico sin apertura de TESCAN impulsado por In-flight Beam Tracing ™.

  • Navegación SEM precisa y sin esfuerzo en la muestra con aumentos tan bajos como 2 × sin la necesidad de una cámara de navegación óptica adicional debido al diseño exclusivo Wide Field Optics ™.

  • Modo SingleVac ™ como característica estándar para observar muestras sensibles al haz y en carga.
  • Software Essence ™ intuitivo y modular diseñado para un funcionamiento sin esfuerzo independientemente del nivel de experiencia del usuario.

  • La máxima seguridad de los detectores montados en la cámara cuando la platina y la muestra están en movimiento está garantizada con el modelo Essence ™ 3D Collision.

  • Se encuentran disponibles detectores SE y BSE en columna opcionales, incluida la tecnología de desaceleración del haz para mejorar el rendimiento de las imágenes con voltajes de aceleración más bajos.

  • Plataforma analítica modular que puede equiparse opcionalmente con la más amplia selección de detectores totalmente integrados (por ejemplo, CL, espectrómetro BSE refrigerado por agua o RAMAN).

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