TESCAN CLARA Ver más grande

TESCAN CLARA

SEM UHR analítico sin campo para la caracterización de materiales a nanoescala.

Aplicaciones:

  • Ciencia de los Materiales (aceros y aleaciones metálicas, pilas, cerámicas y revestimiento duro, cristal, material para la construcción e ingeniería civil, polímeros y compuestos, madera, textiles y papel)

SEM UHR analítico sin campo para la caracterización de materiales a nanoescala

  • Caracterización sin compromisos de todo tipo de materiales a nanoescala
  • Navegación SEM intuitiva en vivo en la muestra con un aumento tan bajo como 2 × sin la necesidad de una cámara de navegación óptica adicional gracias al diseño Wide Field Optics ™

  • Ideal para la caracterización de materiales a bajas energías de haz para una topografía superficial máxima

  • Diseño único de multidetector en haz que permite la detección de EEB selectiva en ángulo y energía

  • Excelente imagen de muestras sensibles al haz y no conductoras
  • Plataforma modular de software intuitiva diseñada para un funcionamiento sin esfuerzo independientemente del nivel de habilidad de los usuarios
  • Configuración completamente automatizada del haz de electrones: las condiciones óptimas de imagen están garantizadas por el In-Flight Beam Tracing™

[SE:tescanclara]

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